지브이텍 취급 브랜드
전기·전자 계측기, 전원공급기, 전력분석기, 안전규격시험기 등 주요 브랜드 제품 상담을 지원합니다.
브랜드: TET
ESD, CDM & LATCH-UP TEST SOLUTIONS
TET
TET는 Tokyo Electronics Trading Co., Ltd.의 브랜드로, 1977년 설립된 일본 도쿄 기반의 전자 계측 및 시험 시스템 전문 기업입니다.
고속 펄스 기술과 정밀 신호 측정 기술을 기반으로 아날로그·디지털 신호를 고정밀로 측정하고 분석하는 계측기와 자동화 시험 시스템을 설계, 제조, 수입, 판매하고 있습니다.
TET는 설립 초기 미국 E-H Research Laboratories의 고성능 펄스 발생기 및 계측기 판매·유지보수에서 출발했으며,
이후 자체 기술을 바탕으로 ESD 및 Latch-up Test System, CDM Test System, 맞춤형 자동화 시험 시스템을 개발해 왔습니다.
특히 반도체 소자, 전자부품, IC, 디바이스 개발 및 신뢰성 평가 분야에서 필요한 ESD, CDM, Latch-up, TLP, Gate Leak, dv/dt,
전기적 파라미터 시험 장비를 제공하며, 유지보수, 애플리케이션 지원, 컨설팅을 통해 고객의 개발 일정과 시험 환경 개선을 지원합니다.
설립
1977년 7월 19일 설립된 일본 도쿄 기반 전자 계측 및 시험 시스템 전문 기업입니다.
핵심 기술
고속 펄스 기술과 정밀 신호 측정 기술을 기반으로 반도체 신뢰성 시험 시스템을 제공합니다.
주요 분야
ESD, CDM, Latch-up, TLP, Gate Leak, DC, AC Parameter, dv/dt 시험 분야에 특화되어 있습니다.
기술 지원
장비 판매뿐 아니라 유지보수, 애플리케이션 지원, 시험 시스템 컨설팅을 함께 제공합니다.
TET 주요 시험 솔루션
ESD Test System
반도체 소자와 전자부품의 정전기 내성 평가를 위한 ESD 시험 시스템을 제공합니다.
자동화 시험 구성과 신뢰성 평가 환경에 적용할 수 있습니다.
CDM Test System
Charged Device Model 조건에서 디바이스의 정전기 방전 내성을 평가하는 CDM 시험 시스템을 제공합니다.
Latch-up Test System
IC 및 반도체 소자의 Latch-up 내성을 평가하여 전기적 스트레스 조건에서의 신뢰성을 검증합니다.
TLP Test System
Transmission Line Pulse 시험을 통해 ESD 보호소자와 반도체 구조의 전기적 특성을 분석하는 데 활용됩니다.
Gate Leak / DC / AC Parameter Test
Gate Leak, DC Test, AC Parameter Test 등 반도체 및 전자부품의 전기적 특성 평가 시스템을 구성할 수 있습니다.
Custom Automated Test System
고객의 디바이스, 시험 항목, 핀 수, 자동화 요구 조건에 맞춘 맞춤형 반도체 시험 시스템 구성이 가능합니다.
ESD Tester
CDM Tester
Latch-up Tester
TLP Tester
Gate Leak Tester
Semiconductor Reliability
CDM Tester
Latch-up Tester
TLP Tester
Gate Leak Tester
Semiconductor Reliability
지브이텍 TET 장비 상담 안내
지브이텍은 반도체 신뢰성 평가, ESD/CDM/Latch-up 시험, TLP 분석, Gate Leak 및 전기적 파라미터 시험 목적에 맞춰
TET 장비의 모델 선정, 시험 항목 검토, 자동화 구성, 견적 및 기술 상담을 지원합니다.
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